沖擊試樣缺口測量分析儀應用

     沖擊試驗要求沖擊試樣缺口要求非常嚴格，缺口的微小變化，都會引起試驗結果出現誤差，為保證加工出的沖擊試樣缺口合格，缺口的加工質量檢驗是一個重要的控制手段。目前zui準確的測量方法用光學測量是*準確測量的方法，并能保證沖擊試樣 缺口質量的方法。

概述

    隨著國內工業技術的發展，越來越多的行業已經開始執行夏比V型U型缺口沖擊試驗方法， 日前國內很多行業如（航空航天、船舶、鍋爐壓力容器、冶金和機械）等行業已普遍使用夏比沖擊試驗。根據目前國內廣大用戶的實際需求和國標GB/T229-2007《金屬材料夏比擺錘試驗方法》ASTM E23中沖擊試樣缺口的要求而開發、開發的一種于檢查夏比V型U型沖擊試樣缺口加工質量的光學儀器，是航空航天、船舶、鍋爐壓力容器、冶金和機械等部門理化實驗室的*設備。滿足所有種類沖擊試樣缺口的的檢測。 

   關于夏比V型缺口沖擊試驗，由于試樣V型缺口要求嚴格（GB/T229-2007試樣缺口深2mm±0.075、45°角±2°且試樣缺口要求R0.25±0.025mm）（ASTM E23試樣缺口深2mm±0.025、45°角±1°且試樣缺口要求R0.25±0.025mm），故在整個試驗過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關鍵問題，如果試樣缺口的加工質量不合格，那么其試驗的結果是不可信的，特別是R0.25mm缺口的微小變化（其公差帶只有0.025mm），都會引起試驗結果的偏差，尤其是在試驗的臨界值時會引起產品報廢或合格兩種截然相反的結果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工質量檢驗是一個重要的質量控制手段。用光學測量檢查是*切實可行并能保證檢查質量的方法。TOP-IG是我公司根據GB/229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗方法》、ASTM E23中要求沖擊試樣缺口的要求與廣大用戶的實際需求而設計、開發的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的光學測量儀器。

原理

   沖擊缺口測量分析儀通過光學采集系統將式樣缺口全貌顯示再電腦顯示器上，根據實際需要，調節的機器視覺光源，使圖像更加清晰，再通關過的SMTMeasSystem_IG測量系統，可以用于V型U型缺口測量，得出角度、深度以及頂部半徑。

產品特點

     該儀器是利用光學測量技術將被測的沖擊試樣V或U型缺口直接顯示再顯示器上，通過測量系統，測量，確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，操作簡便，檢查直觀、效率高，是*切實可行、并將測量數據以圖片、word、excel格式保存起來，以便日后復查。沖擊缺口測量分析儀是相關理化試驗室的*儀器。

適用行業

    沖擊缺口測量分析儀適用于廣大冶金、航空航天、兵器、船舶、壓力容器、和工程機械制及科研等部門理化實驗室的*設備。

   該儀器還可用于機械零部件的外形輪廓、角度、半徑、長度、紡織物纖維、生物切片分析、工量刃具的檢驗、儀表元件和半導體元件的測量檢測。滿足標準GB/T 229-2007 ASTM E23-2002a等技術要求。

技術參數

     1、 放大倍數：10~300倍；

     2、 視場范圍：20mm；

     3、 工作臺尺寸：

       方工作臺：300×400mm

             X y可調載物臺：70×60mm

      4、 儀器放大倍率：10~300倍

      5、測量精度

           分辨率：0.001mm

      6、 光源（機器視覺裝用LED）：5v8W；

      7、 電源：220V/10W；

      8、 外形尺寸：400×300×600mm（長×寬×高）；

      9、重量：約30kg。